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三維光學(xué)輪廓儀
BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀
產(chǎn)品分類(lèi)
Bruker白光干涉儀:表面測(cè)量解決方案 Bruker白光干涉儀(如ContourGT系列)是一款優(yōu)良的三維光學(xué)表面輪廓儀,廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域。該設(shè)備采用白光干涉技術(shù),通過(guò)測(cè)量光程差來(lái)獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測(cè)量方式避免了對(duì)樣品的物理?yè)p傷,適用于多種材料和復(fù)雜表面的測(cè)量。
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀微納檢測(cè)觸手可及。布魯克Contour X系列以“高適應(yīng)性、易操作、低維護(hù)”為核心設(shè)計(jì)理念,幫助用戶將微納檢測(cè)從專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室延伸至量產(chǎn)產(chǎn)線,為智能制造提供可靠的質(zhì)量控制手段。
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀形貌測(cè)量新維度布魯克Contour X系列白光干涉光學(xué)輪廓儀,以光學(xué)干涉技術(shù)為核心,通過(guò)非接觸式測(cè)量實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)表面形貌分析。其垂直分辨率突破0.1nm,橫向采樣密度達(dá)640×480點(diǎn)/次,可在5-20秒內(nèi)完成單次掃描,兼顧效率與精度。
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀落地式全能選手 ContourX - 1000 采用落地式設(shè)計(jì),機(jī)身穩(wěn)固。其集成了 Bruker 傾斜 / 俯仰光學(xué)頭,雙光源、自動(dòng)化的物鏡轉(zhuǎn)盤(pán)和樣品臺(tái),以及可選配的晶圓卡盤(pán) 。這種創(chuàng)新設(shè)計(jì)為各種復(fù)雜應(yīng)用提供了極大便利,對(duì)于有難度的表面和深溝槽結(jié)構(gòu)也能輕松應(yīng)對(duì)。操作界面配備簡(jiǎn)潔且有引導(dǎo)性的 VisionXpress™程序和模式,降低了操作人員的使用難度,即使經(jīng)驗(yàn)不足也能快速
布魯克白光干涉儀:輪廓測(cè)量新選擇 在材料微觀特性探究、元件質(zhì)量把控的科研及工業(yè)場(chǎng)景里,表面輪廓測(cè)量的精度與效率,直接影響著研究進(jìn)展與產(chǎn)品品質(zhì)。布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀,以其精巧設(shè)計(jì)與實(shí)用功能,成為眾多專(zhuān)業(yè)人士信賴(lài)的得力工具。下面為你介紹兩款該系列的產(chǎn)品。
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