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三維光學輪廓儀
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ContourX-100BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎設備
BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎設備在小型五金廠、電子配件廠等小型制造企業(yè),布魯克 ContourX-100 以低成本、易維護的優(yōu)勢,成為產(chǎn)品質(zhì)量檢測的入門級設備,幫助企業(yè)把控基礎生產(chǎn)質(zhì)量。
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BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎設備
參數(shù)項 | 具體數(shù)值 |
橫向分辨率 | 最高可達 1μm |
縱向分辨率 | 低至 5nm |
縱向測量范圍 | 5nm-3mm |
樣品臺尺寸 | 80mm×80mm |
單次測量時間 | 約 3-5 分鐘(標準參數(shù)) |
數(shù)據(jù)存儲 | 支持 SD 卡(最大 32GB)、本地存 200 組 |
對比功能 | 支持自定義標準數(shù)據(jù),自動對比 |
電源要求 | 220V±10%,50Hz |
工作溫度 | 15-32℃ |
相對濕度 | 20%-75%(無冷凝) |
BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎設備
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