在科研探索與工業(yè)生產(chǎn)對(duì)高精度測(cè)量需求日益增長(zhǎng)的當(dāng)下,布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學(xué)輪廓儀以其設(shè)計(jì)與強(qiáng)大性能,成為落地式測(cè)量設(shè)備中的,為眾多領(lǐng)域帶來(lái)全新的測(cè)量體驗(yàn)。布魯克白光干涉輪廓儀落地式測(cè)量的革新力量
產(chǎn)品細(xì)節(jié):穩(wěn)固設(shè)計(jì),智能操作
ContourX - 1000 采用落地式結(jié)構(gòu),機(jī)身穩(wěn)固,能有效抵抗外界振動(dòng)干擾。其集成了 Bruker 傾斜 / 俯仰光學(xué)頭,雙光源、自動(dòng)化的物鏡轉(zhuǎn)盤和樣品臺(tái),以及可選配的晶圓卡盤 。這種創(chuàng)新設(shè)計(jì)為各種復(fù)雜應(yīng)用提供了極大便利,對(duì)于有難度的表面和深溝槽結(jié)構(gòu)也能輕松應(yīng)對(duì)。操作界面配備簡(jiǎn)潔且有引導(dǎo)性的 VisionXpress™程序和模式,降低了操作人員的使用難度,即使經(jīng)驗(yàn)不足也能快速上手,輕松完成測(cè)量工作。全新的一鍵式高級(jí)尋找表面(Advanced Find Surface ™)功能結(jié)合自動(dòng)聚焦和自動(dòng)照明功能,無(wú)需每次測(cè)量前手動(dòng)查找樣品表面,極大提升了用戶體驗(yàn)且縮短測(cè)量時(shí)間 。
產(chǎn)品性能:*技術(shù),高效穩(wěn)定
該輪廓儀融合了*的白光干涉技術(shù)與自動(dòng)化功能。白光干涉技術(shù)精準(zhǔn)測(cè)量表面微觀形貌,自動(dòng)化功能則大幅提高測(cè)量效率。設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定,配備專屬的內(nèi)部參考激光和防震臺(tái),即便在嘈雜環(huán)境中,也能確保測(cè)量性能不受影響,提供可靠的測(cè)量結(jié)果。全局掃描干涉(USI)自適應(yīng)測(cè)量模式可自動(dòng)確定測(cè)量參數(shù),在幾十微米尺度內(nèi)也能確保納米級(jí)分辨率 ,無(wú)論是對(duì)光滑表面還是粗糙表面,都能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
用材講究:堅(jiān)固耐用,品質(zhì)保障
ContourX - 1000 的選材注重堅(jiān)固耐用與性能穩(wěn)定。光學(xué)部件采用高品質(zhì)材料,確保成像清晰、測(cè)量準(zhǔn)確。機(jī)械結(jié)構(gòu)選用高強(qiáng)度金屬,保證設(shè)備在長(zhǎng)期使用中,維持精準(zhǔn)的運(yùn)動(dòng)精度。設(shè)備整體架構(gòu)設(shè)計(jì)穩(wěn)固,有效抵抗外界干擾,適應(yīng)工業(yè)生產(chǎn)車間等復(fù)雜環(huán)境,保障設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行與長(zhǎng)期使用。
參數(shù)詳情
廣泛用途
在材料研發(fā)中,可用于分析材料表面的微觀結(jié)構(gòu)、涂層厚度均勻性等,為新材料的開發(fā)與性能優(yōu)化提供重要依據(jù)。在半導(dǎo)體制造環(huán)節(jié),能精確檢測(cè)芯片表面的平整度、缺陷等,保障芯片制造的良品率。在汽車零部件制造、醫(yī)療器械生產(chǎn)等行業(yè),對(duì)于零部件表面粗糙度、紋理的測(cè)量,有助于提升產(chǎn)品質(zhì)量,確保產(chǎn)品性能符合標(biāo)準(zhǔn)。布魯克 ContourX - 1000 白光干涉光學(xué)輪廓儀憑借創(chuàng)新設(shè)計(jì)、強(qiáng)大性能與廣泛適用性,成為落地式測(cè)量設(shè)備中的革新力量,助力各行業(yè)在精密測(cè)量領(lǐng)域不斷突破,邁向新的高度。布魯克白光干涉輪廓儀落地式測(cè)量的革新力量