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產(chǎn)品中心臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析澤攸臺(tái)式掃描電鏡ZEM 20Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
ZEM 20Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬(wàn)倍，分辨率可達(dá)3nm。自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、大圖拼接。超大樣品倉(cāng)可集成多種原位拓展平臺(tái)，滿(mǎn)足不同實(shí)驗(yàn)及檢測(cè)需求。
產(chǎn)品分類(lèi)
• 產(chǎn)品介紹：
ZEM20pro臺(tái)式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬(wàn)倍，分辨率可達(dá)3nm。自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、大圖拼接。超大樣品倉(cāng)可集成多種原位拓展平臺(tái)，滿(mǎn)足不同實(shí)驗(yàn)及檢測(cè)需求。
• 產(chǎn)品特色：
▲ 易用性強(qiáng)
▲ 兼容擴(kuò)展性強(qiáng)
▲ 高性?xún)r(jià)比
▲ 多級(jí)防震
▲ 多種成像模式
▲ 高分辨觀察
• 實(shí)拍案例：
主要指標(biāo) | ZEM20 Pro |
環(huán)境要求 | AC 220V，50Hz，1kW，無(wú)需減震臺(tái) |
加速電壓 | 3kV~20kV連續(xù)可調(diào)，1kV步進(jìn) |
電子槍 | 單晶燈絲 |
放大倍數(shù) | 360000x |
分辨率 | 3nm |
探測(cè)器 | 二次電子探測(cè)器、四分割背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀(選配) |
樣品臺(tái) | 兩軸：X:60mm Y：55mm |
樣品容納大小 | XY可自由移動(dòng)：105*87*51.5mm靜止：165*122*51.5mm |
減速模式 | 選配(0-10kv樣品臺(tái)電壓減速) |
成像模式 | 視頻模式：512x512像素，無(wú)需小窗口掃描；快掃模式：512x512像素 |
導(dǎo)航功能 | 光學(xué)相機(jī)導(dǎo)航，艙內(nèi)攝像頭，可實(shí)時(shí)觀察樣品艙內(nèi)情況 |
自動(dòng)功能 | 自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、大圖拼接 |
尺寸 | 主機(jī)：650 × 370 × 642(mm) |
拓展功能 | 兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)（TEC冷臺(tái)、加熱臺(tái)、拉伸臺(tái)等） |
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