PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)

澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量

澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)配的STM-TEM樣品桿上集成光學(xué)模塊，從而實現(xiàn)在透射電鏡中進行原位光電測量或者光譜學(xué)表征研究。

性能指標(biāo)

透射電鏡指標(biāo)：

● 兼容指*電鏡型號及極靴；

● 可選雙傾版本，雙傾電學(xué)測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）；

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學(xué)測量指標(biāo)：

● 包含一個電流電壓測試單元；

● 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個量程；

● 電流分辨率：優(yōu)于100 fA；

● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；

● 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

掃描探針操縱指標(biāo)：

● 粗調(diào)范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

● 細調(diào)范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

● 細調(diào)分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

光纖指標(biāo)：

● 光纖外徑250 um，保證電鏡系統(tǒng)真空指標(biāo)；

● 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡；

● 可選SMA接頭、FC接頭。

產(chǎn)品特色

（1）采用雙向光纖，可應(yīng)用于CL光譜、光電探測及電致發(fā)光光譜等研究；

（2）光電一體化解決方案，具有高拓展性；

（3）高穩(wěn)定性，保證電鏡原有分辨率；

（4）很長的壽命